Ruiz Balbas：安美特西班牙質(zhì)控部門的工作流程主要是接收存在已知缺陷的部件。我們首先要通過金相制樣對缺陷進(jìn)行序列分析，例如切割和拋光環(huán)節(jié)，然后再執(zhí)行后續(xù)的檢測工作。樣本制備好后，我們會使用光學(xué)顯微鏡和掃描電子顯微鏡執(zhí)行檢測。我們的工作主要是金相檢驗(yàn)和測量，多圍繞沉淀金屬中產(chǎn)生的表面缺陷，例如銅、鎳、鉻、鋅、金等。

Ruiz Balbas：最大的挑戰(zhàn)是如何在最短的時(shí)間內(nèi)獲得盡可能多的缺陷信息。

Ruiz Balbas：可持續(xù)性已經(jīng)成為汽車工業(yè)各環(huán)節(jié)都必須滿足的一項(xiàng)要求。也就是說，我們不僅要確保產(chǎn)品中不含致癌、致突變或生殖毒性物質(zhì)（CMR），優(yōu)化物理化學(xué)屬性，還要減少碳排放。為此，十多年來，安美特一直堅(jiān)持將我們年收入額的10%投入研發(fā)和材料科學(xué)領(lǐng)域。因此，我們也一直是汽車工業(yè)的主要表面處理合作伙伴。

Ruiz Balbas：我們的優(yōu)勢主要在于我們在金相技術(shù)領(lǐng)域擁有豐富經(jīng)驗(yàn)。

Ruiz Balbas：傳統(tǒng)的樣本制備方法很難發(fā)現(xiàn)細(xì)微的缺陷和問題。在很多情況下，人工操作因素，例如移動(dòng)或樣本制備，都會導(dǎo)致飾面發(fā)生變化；或者在某些情況下，磨削-拋光過程還會導(dǎo)致樣本傾斜。移動(dòng)樣本的過程中，還需要很多的輔助性支持材料，例如使用樹脂包覆樣本。

使用徠卡EM TXP表面定位研磨制備系統(tǒng)，在材料切割和拋光過程中，我們可以通過可控的步驟序列實(shí)現(xiàn)漸進(jìn)式操作。我們可以針對目標(biāo)細(xì)增加想要的微米數(shù)量。可控的切割-拋光遞增量可以從0.5微米到100微米的范圍內(nèi)自由選擇。在此之前，我們根本無法可視化表面外觀或缺陷輪廓上確切的橫截面。

現(xiàn)在使用徠卡EM TXP/DM2700 M后，從橫截面開始到制備再到完成，利用一體式立體顯微鏡，我們可以從不同角度觀察樣本，實(shí)現(xiàn)表面外觀和橫截面的可視化。

Ruiz Balbas：它操作起來靈活、自由，可以在短時(shí)間內(nèi)獲得高質(zhì)量結(jié)果。它能確保樣本制備方法的一致性和可重復(fù)性，進(jìn)而保證樣本分析準(zhǔn)確無誤。

精研一體機(jī) Leica EM TXP

Leica DM2700 M正置金相顯微鏡